美國CID CI-710葉片光譜探測儀
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產(chǎn)品名稱:
美國CID CI-710葉片光譜探測儀
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美國CID代表處在哪
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簡單介紹
美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。美國CID代表處在哪
美國CID CI-710葉片光譜探測儀 的詳細(xì)介紹
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美國CID CI-710葉片光譜探測儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜。
美國CID CI-710葉片光譜探測儀產(chǎn)品簡介：
?CI-700系列之葉片光譜分析儀CI-710功能強(qiáng)大，可以非破壞性測量葉片的透射光、吸收光、反射光光譜
?通過光譜可以定性、定量的研究葉片內(nèi)各組分葉綠素a或b、蛋白質(zhì)、糖、礦物質(zhì)等含量及比例變化美國CID代表處在哪
?直觀的光譜圖像和現(xiàn)場數(shù)據(jù)存儲(chǔ),為植物葉片光合作用、植物遺傳特性、植物脅迫生理、植物病理等方面研究提供了迅捷的手段
美國CID CI-710葉片光譜探測儀產(chǎn)品特點(diǎn)：
?非常便攜，適合于室內(nèi)或野外使用
?非破壞性精密地測量葉片在400~950nm波長范圍內(nèi)的反射率、透射率和吸收率
?掃描速度快，靈敏度高
?USB接口連接UMPC數(shù)據(jù)處理終端
?樣品類型，葉片或扁平的物體美國CID代表處在哪
美國CID CI-710葉片光譜探測儀標(biāo)準(zhǔn)配置：
?光譜探測器、CI-700LP葉夾、光纖、UMPC數(shù)據(jù)終端、光譜分析軟件、說明書、便攜式儀器箱
我們會(huì)努力按照原廠技術(shù)參數(shù)翻譯編輯，如技術(shù)參數(shù)中英文有差異，以英文參數(shù)為準(zhǔn)。
美國CID CI-710葉片光譜探測儀技術(shù)參數(shù)：美國CID代表處在哪
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測量方式：
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非破壞性測量葉片
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測量光譜：
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葉片透射、吸收和反射光譜
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樣品類型：
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葉片或扁平的物體
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檢測器：
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CCD線性陣列探測器
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掃描波長范圍：
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400～950 nm
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采樣速度：
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3.8ms-10s
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光偏離：
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＜0.05%在600nm;0.10%在435nm
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分辨率：
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0.3～10.0nm FWHM
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采樣直徑：
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7.6 mm
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線性修正：
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>99.8%美國CID代表處在哪
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配有CI-700LP葉夾
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尺寸：
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89.1 x 63.3 x 34.4 cm
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重量：
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290g
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美國CID CI-710葉片光譜探測儀
