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產(chǎn)品資料

日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

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產(chǎn)品名稱: 日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀
產(chǎn)品型號(hào): SRS-2010
產(chǎn)品展商: 其它品牌
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔

簡單介紹

日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀
可以獲得樣品的深度方向上的電阻分布,外延層的厚度,PN結(jié)的深度以及載流子濃度分布。
可以從幾平方毫米的區(qū)域分析幾百微米的圖案區(qū)域。
根據(jù)測得的擴(kuò)展電阻,使用校準(zhǔn)曲線計(jì)算電阻


日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀  的詳細(xì)介紹

日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

 

測量規(guī)格日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸

*請聯(lián)系我們。

測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

測量規(guī)格日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸

*請聯(lián)系我們。

測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

*請聯(lián)系我們。

測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸

*請聯(lián)系我們。

測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

測量規(guī)格

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸

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測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

測量規(guī)格日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

測量目標(biāo)

與半導(dǎo)體/太陽能電池相關(guān)的材料(硅,多晶硅,SiC等)

測量尺寸

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測量范圍

1-10E + 9(Ω)[擴(kuò)展電阻]

施加電壓:10(mV)檢測電流:10(pA)至10(mA)

日本napson2探針法擴(kuò)散電阻測試儀

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